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[技术资料] 现代元器件内在质量评价技术(讲稿)

hust
P:2006-08-21 14:13:30

1

供参考!现代元器件内在质量评价技术(讲稿).doc

摘 要：
本讲座分析现代元器件生产工艺不合格品率已降至PPM水平、元器件产品失效率降至FIT数量级的情况下，常规可靠性评价方法存在的问题。在此基础上介绍目前国际上对待元器件内在质量评价的新思路、评价元器件内在质量的三项主要技术(Cpk、SPC和PPM技术)、我们取得的部分研究成果以及相关软件的功能。

HVDC flashover method - 直流高压闪络法 （0） 投诉

自己人
P:2007-04-30 09:18:33

2

谢谢楼长，力顶 

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jinhs
P:2007-05-07 13:27:39

3

好专业呀，谢谢

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wangjing64
P:2007-07-11 21:04:48

4

谢谢楼主的分享

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wangjing64
P:2007-07-11 21:13:02

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我需要这份资料,哪位先生女士可以帮助发送到我邮箱,先谢谢了

wangjing6428@eyou.com

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