现代元器件内在质量评价技术(讲稿).rar

上传：hust 时间：2006/12/20 0:00:00
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摘要：本讲座分析现代元器件生产工艺不合格品率已降至PPM水平、元器件产品失效率降至FIT数量级的情况下，常规可靠性评价方法存在的问题。在此基础上介绍目前国际上对待元器件内在质量评价的新思路、评价元器件内在质量的三项主要技术(Cpk、SPC和PPM技术)、我们取得的部分研究成果以及相关软件的功能。

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