今天有位老大把我说蒙了? 说护套对USB 信号有衰减影响? 难道 护套的松紧、表面光滑度、厚度、密度、体积电阻率等 对整个USB的信号有影响吗? 我没读书,不能理解! 特意寻求高频线法老 回答
在那儿看到的资料啊!这种说法有点超常规,好像没有听说过。
有一点点了
如果押出外被的时候压力太大会把线材结构破坏的
根据我个人的经验,其实USB的电气特性关键是在总绞!如果在总绞将电气特性设定好,那么外被也出的时候几乎没有什么影响的。
衰减主要是跟导体有关。导体的越粗的话,衰减越小!
以上是个人的经验。有问题还请指出!
4楼得好像说的有点道理。 3楼得所谓外被压力太大,我想再大的压力很不至于把里面的结构都压错位或变形吧
影响是肯定有的,只是大小而已,如果整个制程都控制的很好的话,这个影响就不是很大了。
bsdtdw:
只要是老大说的,都要当成真的,谢谢!
支持。。
护套压的紧和松,影响你USB2.0 两芯间距的紧和松,从而影响衰减,如果你绞的够紧得话,基本没影响。
外被是不會影響,只要你對絞各合絞沒有傷到結構,外被是沒有影響的,我上次做USB3.0線材在押外被時就押了兩種,測試結果都一樣。