USB3.0产品衰减不过 - 简版

cableyzf
楼主
2011-02-25 08:38:29
我的USB3.0产品衰减测试时,在7G左右频率出现一个非常严重的畸变,导致不合格,不知大家有没有好的方法解决
qinroxin
1 楼
2011-02-25 09:22:06
估计是生产时张力的问题。
Xcable9119
2 楼
2011-02-25 09:42:41

对绞绞距太长了,缩短一点就好了。

空心菜
3 楼
2011-02-25 15:30:43
绞距问题,俺曾经试过的。
cableyzf
4 楼
2011-02-28 12:04:45

那对绞节距、包带覆盖率、总绞节距、编组节距按照什么样的关系配合比较好?

dawn3l
5 楼
2011-02-28 14:28:26

以上问题不是绞距的问题,一般情况下或多或少都会有点,很难保证的。

试着调整工艺吧,没办法了。

ceteight
6 楼
2011-02-28 16:55:11
可能还要多试几次工艺才行吧,这个东西只有自已一点一点的去改,改后再测,不要怕麻烦才行
canyuechj
7 楼
2011-03-01 14:15:19

我之前有过一次,如果加工时铆铁壳上的线夹时太紧,衰减也会影响很大,后来铆的松一点,不能使芯线有一点伤到就可以了。不知道对你有没有帮助.

libing
8 楼
2011-03-01 15:22:29
LZ 最好能把测试报告传上来,有了数据和图形,也就有了分析的依据,大家也不用根据经验猜了
dxdlw513
9 楼
2011-03-12 17:23:11
对绞绞距 P≦18    总绞 P≦50
wangyu238
10 楼
2011-03-21 21:02:26
大侠,小弟想问一个问题,为什么总绞距的绞距越小,衰减越好了?能帮小弟解决一下吗?
LigLWendy
11 楼
2011-03-27 19:57:16
LZ不知你的问题有无解决? 我也在这个频率出现了
mj14
12 楼
2011-03-31 09:00:41

我的看法是,在你的对绞和集合中出出了问题。

不一定是绞距长短的问题,而可以理解成结构的稳定性吧。不知是否有帮助

dshaohuai
13 楼
2011-05-02 10:59:57

不能说绞距没有问题,长度的长短也会影响衰减,可以试试缩短绞距,如果还不行再看看你的材料结枃。

dedyqi
14 楼
2011-05-19 11:18:07
我也想知道
暗剑
15 楼
2011-05-19 18:24:08
个人经验绞距小了,线材的结构会稳定一些,这样整体的衰减图形会平滑一点。绞距放长点,虽然整体的衰减会好一点(因为同样长的线材里芯线的实际长度会短些)。但是容易出现衰减的突变尖波。感觉还是先对绞,再包覆铝箔这样衰减最稳定!
ychz
16 楼
2011-05-20 11:09:30
绞距 、张力的问题,对绞和集合的绞距要协调!
dedyqi
17 楼
2011-05-20 15:20:34
我也想知道
xj6918995
18 楼
2011-06-30 11:01:18

我也想知道!