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USB3.0产品衰减不过 - 无图版
cableyzf --- 2011-02-25 08:38:29
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我的USB3.0产品衰减测试时，在7G左右频率出现一个非常严重的畸变，导致不合格，不知大家有没有好的方法解决
qinroxin --- 2011-02-25 09:22:06
2
估计是生产时张力的问题。
Xcable9119 --- 2011-02-25 09:42:41
3
对绞绞距太长了，缩短一点就好了。
空心菜 --- 2011-02-25 15:30:43
4
绞距问题，俺曾经试过的。
cableyzf --- 2011-02-28 12:04:45
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那对绞节距、包带覆盖率、总绞节距、编组节距按照什么样的关系配合比较好？
dawn3l --- 2011-02-28 14:28:26
6
以上问题不是绞距的问题，一般情况下或多或少都会有点，很难保证的。
试着调整工艺吧，没办法了。
ceteight --- 2011-02-28 16:55:11
7
可能还要多试几次工艺才行吧，这个东西只有自已一点一点的去改，改后再测，不要怕麻烦才行
canyuechj --- 2011-03-01 14:15:19
8
我之前有过一次，如果加工时铆铁壳上的线夹时太紧，衰减也会影响很大，后来铆的松一点，不能使芯线有一点伤到就可以了。不知道对你有没有帮助.
libing --- 2011-03-01 15:22:29
9
LZ 最好能把测试报告传上来，有了数据和图形，也就有了分析的依据，大家也不用根据经验猜了
dxdlw513 --- 2011-03-12 17:23:11
10
对绞绞距 P≦18 总绞 P≦50
wangyu238 --- 2011-03-21 21:02:26
11
大侠，小弟想问一个问题，为什么总绞距的绞距越小，衰减越好了？能帮小弟解决一下吗？
LigLWendy --- 2011-03-27 19:57:16
12
LZ不知你的问题有无解决？ 我也在这个频率出现了
mj14 --- 2011-03-31 09:00:41
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我的看法是，在你的对绞和集合中出出了问题。
不一定是绞距长短的问题，而可以理解成结构的稳定性吧。不知是否有帮助
dshaohuai --- 2011-05-02 10:59:57
14
不能说绞距没有问题，长度的长短也会影响衰减，可以试试缩短绞距，如果还不行再看看你的材料结枃。
dedyqi --- 2011-05-19 11:18:07
15
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暗剑 --- 2011-05-19 18:24:08
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个人经验绞距小了，线材的结构会稳定一些，这样整体的衰减图形会平滑一点。绞距放长点，虽然整体的衰减会好一点（因为同样长的线材里芯线的实际长度会短些）。但是容易出现衰减的突变尖波。感觉还是先对绞，再包覆铝箔这样衰减最稳定！
ychz --- 2011-05-20 11:09:30
17
绞距 、张力的问题，对绞和集合的绞距要协调！
dedyqi --- 2011-05-20 15:20:34
18
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xj6918995 --- 2011-06-30 11:01:18
19
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