今天测试Amphenol  26AWG Raw cable（高速线） 测到Intra-pair Skew时发现一个问题：为什么在不接地线和接地线时SKEW相差这么大。照理地线是不传输信号的怎么对时间差有影响呢?请各位大侠指教！

在没接地线的情况下，skew为（图）：

接了地线之后的skew（图）：

［ks638 在 2009-3-12 14:25:55 编辑过］

是個好問題,等高手來分析下.............不過我看不懂這個圖................還要請教+學習啊

ＳＡＴＡ，ＳＡＳ有地线．Ｉnfiniband 没有，不知道怎么回事

恩 我響應該市電磁效應干擾了吧 沒加地線 所以無法去導引游離的電磁效應 造成對信號的干擾 接了地線以後 就將這些電磁效應能有效疏導 所以有改善的效果

我想應該是這原因吧

个人认为：应该是不接地线比较准一点吧，差分信号本质上传输是没有用到地线的。

线,是SFP。之前测裸线（差分信号）SKEW从不加地线，是发现成品线测不过。是通过几天的分析才发现这个问题，只是想不明白为什么这样

测过很多线都有这个现象,但当线材高频质量很好时,接或不接地线SKEW都很小,而线材skew有两个来源:

1)在Differential讯号传输时,两个wire各传正及负的讯号并相亙藕合,这时两wire间的线材质量会决定 skew的大小

2)地线及铝箔接地时,其可为正或负, 靠近正的wire藕合为负,靠近负的wire藕合为正,这时skew的大小会由外围的线材质量影响

所以不接地线时所测到的只有一个skew来源,正确的测试,地线也应正确的接地才对

ks638:

线,是SFP。之前测裸线（差分信号）SKEW从不加地线，是发现成品线测不过。是通过几天的分析才发现这个问题，只是想不明白为什么这样

是对地电容的影响！

學習了

学习

从你的图表上来看,如果没有错的话,你使用了TDR Mode的方式来进行Skew的测试,也就是说,你测试Skew时,只使用了一个54754A模组.(原因为波形并非从0mV开始往上升,除非你的TDR已经有所损坏,不然测试Skew的波形应该会由0mV开始往上升)

标准的Skew测试最适合使用TDT模式,也就是使用两个模组.

当然,你使用TDR模式进行Skew的测试也是有参考价值,记得测试到的值必须除以2,因为测试方法是使用反射的原理,也就是讯号走了2倍的时间.

至于STP cable接地与否与量测结果的差异,densen1已经解释的差不多了.

底下以数学的方式加以解释,但不知是否对你有所帮助:

假设一对STP的讯号线在近端为P1及P2,在远端为P3及P4.

则一个Skew的波形D+的部分可以以1/2*(S31+S41)来表示;

D-的部分可以以1/2*(S42+S32)来表示;

若测试时,没有将STP的GND接到系统的GND,则S31及S42只会被当成连接到虚拟的GND(理想的GND上)也就是不会考虑到D+及D-个别对地讯号的影响;

若测试时,将STP的GND街道系统的GND,则S31及S42的量测,会测试到D+对STP的GND及D-对STP的GND的真实结果.

在实际的应用中,STP的GND若没有接,此时产生的Skew,会导致EMI的问题.

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受教了，很好很強大。

leoleeson:

从你的图表上来看,如果没有错的话,你使用了TDR Mode的方式来进行Skew的测试,也就是说,你测试Skew时,只使用了一个54754A模组.(原因为波形并非从0mV开始往上升,除非你的TDR已经有所损坏,不然测试Skew的波形应该会由0mV开始往上升)

标准的Skew测试最适合使用TDT模式,也就是使用两个模组.

当然,你使用TDR模式进行Skew的测试也是有参考价值,记得测试到的值必须除以2,因为测试方法是使用反射的原理,也就是讯号走了2倍的时间.

至于STP cable接地与否与量测结果的差异,densen1已经解释的差不多了.

底下以数学的方式加以解释,但不知是否对你有所帮助:

假设一对STP的讯号线在近端为P1及P2,在远端为P3及P4.

则一个Skew的波形D+的部分可以以1/2*(S31+S41)来表示;

D-的部分可以以1/2*(S42+S32)来表示;

若测试时,没有将STP的GND接到系统的GND,则S31及S42只会被当成连接到虚拟的GND(理想的GND上)也就是不会考虑到D+及D-个别对地讯号的影响;

若测试时,将STP的GND街道系统的GND,则S31及S42的量测,会测试到D+对STP的GND及D-对STP的GND的真实结果.

在实际的应用中,STP的GND若没有接,此时产生的Skew,会导致EMI的问题.

支持一下！太专业了！

leoleeson:

从你的图表上来看,如果没有错的话,你使用了TDR Mode的方式来进行Skew的测试,也就是说,你测试Skew时,只使用了一个54754A模组.(原因为波形并非从0mV开始往上升,除非你的TDR已经有所损坏,不然测试Skew的波形应该会由0mV开始往上升)

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当然,你使用TDR模式进行Skew的测试也是有参考价值,记得测试到的值必须除以2,因为测试方法是使用反射的原理,也就是讯号走了2倍的时间.

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假设一对STP的讯号线在近端为P1及P2,在远端为P3及P4.

则一个Skew的波形D+的部分可以以1/2*(S31+S41)来表示;

D-的部分可以以1/2*(S42+S32)来表示;

若测试时,没有将STP的GND接到系统的GND,则S31及S42只会被当成连接到虚拟的GND(理想的GND上)也就是不会考虑到D+及D-个别对地讯号的影响;

若测试时,将STP的GND街道系统的GND,则S31及S42的量测,会测试到D+对STP的GND及D-对STP的GND的真实结果.

在实际的应用中,STP的GND若没有接,此时产生的Skew,会导致EMI的问题.

高人出现，顶一下！

leoleeson:

从你的图表上来看,如果没有错的话,你使用了TDR Mode的方式来进行Skew的测试,也就是说,你测试Skew时,只使用了一个54754A模组.(原因为波形并非从0mV开始往上升,除非你的TDR已经有所损坏,不然测试Skew的波形应该会由0mV开始往上升)

标准的Skew测试最适合使用TDT模式,也就是使用两个模组.

当然,你使用TDR模式进行Skew的测试也是有参考价值,记得测试到的值必须除以2,因为测试方法是使用反射的原理,也就是讯号走了2倍的时间.

至于STP cable接地与否与量测结果的差异,densen1已经解释的差不多了.

底下以数学的方式加以解释,但不知是否对你有所帮助:

假设一对STP的讯号线在近端为P1及P2,在远端为P3及P4.

则一个Skew的波形D+的部分可以以1/2*(S31+S41)来表示;

D-的部分可以以1/2*(S42+S32)来表示;

若测试时,没有将STP的GND接到系统的GND,则S31及S42只会被当成连接到虚拟的GND(理想的GND上)也就是不会考虑到D+及D-个别对地讯号的影响;

若测试时,将STP的GND街道系统的GND,则S31及S42的量测,会测试到D+对STP的GND及D-对STP的GND的真实结果.

在实际的应用中,STP的GND若没有接,此时产生的Skew,会导致EMI的问题.

谢谢。54754A的模组没有坏，只是线材太长的缘故。

學習了

線材的長短貌似跟SKEW沒影響吧!

看来还是有很多需要学习

頂！

ms02043109:
裸线测SHKE时，地线都没接啊，测试治具上只有两个接触点啊，对线一条芯线对应一个

你需要把底线接到治具的底座上去！