USB 3.1 产品 衰减测试时 全程布满细小的抖动（噪音？）如何解决？让曲线光滑？ - 简版
huashengzi
楼主
2019-09-06 17:11:46
jemeszhao
1 楼
2019-09-06 17:23:10
绞距多大的，把绞距放小，铝箔重叠率再加大。
xiaofan
2 楼
2019-09-17 09:02:34
在高频端发生这样的似乎也合理的，只需调整超出标准范围的部份
zhengliang
3 楼
2019-09-27 10:29:41
解决没有？什么样的结构发出来看一下。
hcyleo22
4 楼
2019-10-25 11:02:31
高频端不良系绝缘介质问题，可以从这个材质，工艺着手改善
slikin
5 楼
2020-03-13 13:51:59
一脸蒙逼的看着
yacoo
6 楼
2020-06-30 16:03:06
1、从测试图形来看是高频位置抖动严重一些 建议调整一下铝箔带的张力大小 铝箔带张力过大或过小都会出现高频抖动现象
2、不知道你的特性阻抗是多少 可以参考以下这个值 如果特性阻抗偏大 那么铝箔带张力要大一些（铝箔带张力小） 反之则减小
hl5825
7 楼
2020-07-20 08:27:58
wzlzj
8 楼
2020-10-09 13:00:18
这个是这个综合性的问题，不是单独某一个制程造成的，笼统的讲差分线对芯线一致性约好，抖动越小，还有适合的绞距+适合的铝箔+麦拉张力.高频线就是做的细节.当然越高频抖动越大这个是定律.