USB2.0 28#+22#衰减不合格？ - 简版
gcb186
楼主
2017-09-20 11:20:25
USB2.0 28#+22#衰减不合格？线材规格：OD:4.5[(7/0.127*0.85*1P白绿HDPE)+(17/0.16*1.25*2C/红黑)+AL+7/0.12+64/0.10CCS编织]不良图片：见附件
WHN
1 楼
2017-09-20 11:58:04
节距多少
moveitgogo
2 楼
2017-09-20 13:36:44
测试长度相对来讲长了。
gcb186
3 楼
2017-09-20 14:30:17
白绿绞距做过25，也做过32mm都不行<div>长度3.09M</div>
gcb186
4 楼
2017-09-20 14:31:44
起始频率结束频率规格上限规格下限第 1 对
12 12 -- -0.67 -0.825
12 400 -- -0.67→-5.80 -0.825
MHz MHz dB dB Fail
12 12 -- -0.67 -0.825
12 400 -- -0.67→-5.80 -0.825
MHz MHz dB dB Fail
Ponfy
5 楼
2017-09-20 14:37:57
导体要走正公差,导体绞距6-7看看行不,我们可以过三米
gcb186
6 楼
2017-09-20 15:20:20
绞距小了更不好？不知道是什么原因，<div>把白绿芯线改为0.75~0.8是不是会对衰减有帮助，请教各位专家？</div>
moveitgogo
7 楼
2017-09-20 16:15:35
仔细看了下你的图形，起始点的衰减较大，可以考虑把测试设备较正下后再测试。<div>
</div>
</div>
迷儿
8 楼
2017-09-20 17:10:06
坐等各路仙佛登场~~
DOE
9 楼
2017-09-20 18:46:55
特性阻抗多少了？
DOE
10 楼
2017-09-20 18:53:00
如果特性阻抗下限，可以适当的增加绝缘直径。
如果特性阻抗已经偏上限了，增加导体的直径。
集合的节距在特定的范围内改善衰减的作用不大，导体节距也一样。
另外按照测试的图形，在400MHz就有dip，这个很不正常，建议优先排除测试的问题。
Kitic
11 楼
2017-09-20 22:07:38
我们的7/0.127的都是用0.13的来绞合，低频走导体，一般都是导体绞合有问题，绞铜时张力不宜大，且要正规绞合。
sihe2012
12 楼
2017-09-20 23:27:43
看图是测试不良造成，线没毛病；28#/1P镀锡铜我刚做一条可以过四米
gcb186
13 楼
2017-09-27 08:48:05
特性阻抗走上限，
gcb186
14 楼
2017-09-27 10:10:29
现在我把芯线ID由原来0.85改为0.8，再次测试衰减OK,但是延迟差NG,标准100，实际测试521，什么原因？
moveitgogo
15 楼
2017-09-27 15:24:59
<div>这能有什么原因呢，说明制程能力不好啊！</div><div>影响延迟差的因素很多，在论坛里找找相关的解决办法，以前有讨论过。</div>gcb186:
现在我把芯线ID由原来0.85改为0.8，再次测试衰减OK,但是延迟差NG,标准100，实际测试521，什么原因？
apologize
16 楼
2017-09-27 17:24:13
阻抗做大，一定要大大大大大大
bida
17 楼
2020-08-03 19:07:24
要看特性阻抗是多少。阻抗大才把线径做小。