我们生产了一根对绞屏蔽信号线,绝缘是微孔带绕包,对绞后绕包一层铝箔,然后将这对包铝箔的信号线进行了特性阻抗、衰减、传输延时、直流电阻、电容和对地电容不平衡的测试,频率为0.75~3MHz,其他项目都合格了,特性阻抗标准为120+/-12欧姆,实测为118~124欧姆。唯独频率范围内的衰减都不合格,是什么原因呢?<div>
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衰减不合格是低频还是高频段?如低频段不过是导体直径偏小;如是高频段不过是绕包带问题,可能是绝缘变形或微孔太少(相当于发泡度不够,介电常数偏高)。先将导体改成走上偏差的试一下,如不行再改包带。
铝箔铝层不够厚,造成低频穿透,所以在3MHZ不合格,铝层厚度可以考虑35-50U左右
可以在原铝箔层上再绕包一层铝箔吗?如果可以,内外两层的金属面要接触吗?<div>或者我把原铝箔层除去,再重新绕包一层厚的铝箔?</div>
铝箔的厚度会对衰减有影响???哪位大神能从专业上讲解一下
sa571328:
铝箔铝层不够厚,造成低频穿透,所以在3MHZ不合格,铝层厚度可以考虑35-50U左右
<div>正解!</div>