电线电缆网 > 品质 检测 试验 > USB&1394测试教材(完整版)
USB&1394测试教材 - 无图版
michael --- 2007-08-03 10:19:23
1
USB
1.Visual and Dimensional inspection 外觀及尺寸檢驗 測試規格: 外觀及尺寸必須符合規格
測試儀器:
3. Insulation Resistance 絕緣阻抗
測試條件: 500vDC/1分鐘
測試規格: 兩兩相鄰之端子及端子對鐵殼不可低於1000MΩ
測試儀器: 將儀器之測試夾頭,夾以目視及量測儀器進行檢驗
2.Withstanding 耐電壓試驗
測試條件: 500vAc/0.5mA/1分鐘
測試規格: 兩兩相鄰之端子及端子對鐵殼不可有超過漏電流、被擊穿、火花等現象
測試儀器: 由於Conn.端子兩兩相鄰過密,不易測試,因此測試前先將Conn.之每一端子銲點位置,分別銲上小於26Awg之線材約9.5mm長,以利儀器之測試夾頭,夾於所要測試之兩兩相鄰之端子,之後即可使用耐壓絕緣測試機進行測試於所要測試之兩兩相鄰端子,之後即可使用耐壓絕緣測試機進行測試
4.Low Level Contact Resistance 低階電路(端子) 接觸阻抗
測試規格: 每一端子不可超過30 mΩ
測試儀器: 將所要測試Conn.公母配之另一個Conn.,其每一端子銲點位罝,也分別銲上小於26Awg之線材約9.5mm長,以利儀器之測試夾頭,夾於所要測試之端子,之後即可將Conn.公母匹配後,使用微歐姆機夾頭夾於所要測試之端子進行測試
5.Durability 耐久性 (試驗)
測試條件: 1500次/每小時200次
測試規格: 最初及最終值
Mating Force 插入力 : 35 Newtons max.
Unmating Force 拔出力 : 10 Newtons min.
測試儀器: 使用插拔機及夾治具,調整完測試速度後,進行測試
6.Withstanding Voltage 耐電壓試驗
測試條件: 500vAc/0.5mA/1分鐘
測試規格: 兩兩相鄰之端子及端子對鐵殼不可有超過漏電流、被擊穿、火花等現象
測試儀器: 將儀器之測試夾頭,夾於所要測試之兩兩相鄰端子,之後即可使用耐壓絕緣測試機進行測試
7. Insulation Resistance 絕緣阻抗
測試條件: 500vDC/1分鐘
測試規格: 兩兩相鄰之端子及端子對鐵殼不可低於1000MΩ
測試儀器: 將儀器之測試夾頭,夾於所要測試之兩兩相鄰端子,之後即可使用耐壓絕緣測試機進行測試
8.Low Level Contact Resistance 低階電路(端子) 接觸阻抗
測試規格: 每一端子不可超過30 mΩ
測試儀器: 先將Conn.公母匹配後,之後即可使用微歐姆機之測試夾頭,夾於所要測試之端子進行測試
michael --- 2007-08-03 10:23:21
2
Group A
A1. Visual and Dimensional inspection 外觀及尺寸檢驗
測試規格: 外觀及尺寸必須符合規格
測試儀器: 以目視及量測儀器進行檢驗
A2. Plating Thickness 電鍍層厚度
測試規格: 電鍍層厚度必須符合規格
測試儀器: 使用X-Ray 電鍍膜厚測試機進行測試
Group B
B1. Low Level Contact Resistance 低階電路(端子) 接觸阻抗
測試規格: 6 Socket每一端子不可超過30 mΩ
4 Socket每一端子不可超過50 mΩ
測試儀器: 將所要測試Conn.公母配之另一個Conn.,其每一端子銲點位罝,也分別銲上小於26Awg之線材約9.5mm長,以利儀器之測試夾頭,夾於所要測試之端子,之後即可將Conn.公母匹配後,使用微歐姆機夾頭夾於所要測試之端子進行測試
B2. Vibration 振動試驗
測試條件: 6 Socket Frequency range: High-10 to 2000
Peak level:
4 Socket Frequency range: High-10 to 500
Peak level:
測試規格: 測試中,每一端子中斷不可超過1μs
測試儀器: 使用振動試驗機進行測試
B3. Low Level Contact Resistance 低階電路(端子) 接觸阻抗
測試規格: 測試完後,其接觸阻抗每一端子變動增加量,不可超過B1步驟所量測之30 mΩ
測試儀器: 先將Conn.公母匹配後,之後即可使用微歐姆機之測試夾頭,夾於所要測試之端子進行測試
B4. Mechanical Shock 機械衝擊強度試驗
測試條件: Peak acceleration: 980 m/s2,100 g’s
Normal duration: 6ms
Velocity change: Sawtooth
測試規格: 測試中,每一端子中斷不可超過1μs
測試儀器: 使用機械衝擊強度試驗機進行測試
B5. Low Level Contact Resistance 低階電路(端子) 接觸阻抗
測試規格: 測試完後,其接觸阻抗每一端子變動增加量,不可超過B1步驟所量測之30 mΩ
測試儀器: 先將Conn.公母匹配後,之後即可使用微歐姆機之測試夾頭,夾於所要測試之端子進行測試
michael --- 2007-08-03 10:24:35
3
Group C
C1. Low Level Contact Resistance 低階電路(端子)接觸阻抗
測試規格: 6 Socket每一端子不可超過30 mΩ
4 Socket每一端子不可超過50 mΩ
測試儀器: 將所要測試Conn.公母配之另一個Conn.,其每一端子銲點位罝,也分別銲上小於26Awg之線材約9.5mm長,以利儀器之測試夾頭,夾於所要測試之端子,之後即可將Conn.公母匹配後,使用微歐姆機夾頭夾於所要測試之端子進行測試
C2. Thermal Shock 溫度衝擊試驗
測試條件: 6 Socket
4 Socket
測試規格: 測試完後,其接觸阻抗每一端子變動增加量,不可超過C1步驟所量測之30 mΩ
測試儀器: 將測試樣品放入溫度衝擊試驗機進行測試
C3. Humidity 熱濕性試驗
測試條件: 溫度:
測試規格: 測試完後,其接觸阻抗每一端子變動增加量,不可超過C1步驟所量測之30 mΩ
測試儀器: 將測試樣品放入熱濕性試驗機進行測試
michael --- 2007-08-03 10:25:17
4
Group D
D1. Withstanding Voltage 耐電壓試驗
測試條件: 6 Socket 500VDC/0.5mA/1分鐘
4 Socket 100VDC/0.5mA/1分鐘
測試規格: 兩兩相鄰之端子及端子對鐵殼不可有超過漏電流、被擊穿、火花等現象
測試儀器: 由於Conn.端子兩兩相鄰過密,不易測試,因此測試前先將Conn.之每一端子銲點位置,分別銲上小於26Awg之線材約9.5mm長,以利儀器之測試夾頭,夾於所要測試之兩兩相鄰之端子,之後即可使用耐壓絕緣測試機進行測試
D2. Thermal Shock 溫度衝擊試驗
測試條件:
測試規格: 測試完後,不可有斷裂及破裂現象
測試儀器: 將測試樣品放入溫度衝擊試驗機進行測試
D3. Insulation Resistance 絕緣阻抗
測試條件: 6 Socket 500vDC/1分鐘
4 Socket 100vDC/1分鐘
測試規格: 兩兩相鄰之端子及端子對鐵殼不可低於100MΩ
測試儀器: 將儀器之測試夾頭,夾於所要測試之兩兩相鄰之端子,之後即可使用耐壓絕緣測試機進行測試
D4. Humidity 熱濕性試驗
測試條件: 濕度: 90~95%,溫度: 25
65
共4cycles
測試規格: 測試完後,其絕緣阻抗兩兩相鄰之端子及端子對鐵殼不可低於100MΩ
測試儀器: 將樣品放入熱濕性試驗機進行測試
michael --- 2007-08-03 10:25:36
5
Group E
E1. Low Level Contact Resistance 低階電路(端子)接觸阻抗
測試規格: 6 Socket每一PIN端子不可超過30 mΩ
4 Socket每一PIN端子不可超過50 mΩ
測試儀器: 將所要測試Conn.公母配之另一個Conn.,其每一端子銲點位罝,也分別銲上小於26Awg之線材約9.5mm長,以利儀器之測試夾頭,夾於所要測試之端子,之後即可將Conn.公母匹配後,使用微歐姆機夾頭夾於所要測試之端子進行測試
E2. Continuity 低階電路(端子)接觸阻抗對PCB
測試規格: 每一端子到PCB不可超過50 mΩ
測試儀器: 將Socket銲於PCB上,以利儀器之測試夾頭,夾於所要測試之端子,之後即可使用微歐姆機進行測試
E3. Durability 耐久性 (試驗)
測試條件: 6 Socket 750次/每小時500次
4 Socket 500次/每小時500次
測試儀器: 使用插拔機及夾治具,調整完測試速度後,進行測試
E4. Low Level Contact Resistance 低階電路(端子)接觸阻抗
測試規格: 測試完後,其接觸阻抗每一端子變動增加量,不可超過E1步驟所量測之30 mΩ
測試儀器: 先將Conn.公母匹配後,之後即可使用微歐姆機之測試夾頭,夾於所要測試之端子進行測試
E5. Continuity 低階電路(端子)接觸阻抗對PCB
測試規格: 測試完後,其接觸阻抗每一端子變動增加量,不可超過E1步驟所量測之50 mΩ
測試儀器: 使用微歐姆機進行測試
E6. Mixed Flowing Gas (略過)
E7. Durability 耐久性 (試驗)
測試條件: 6 Socket 750次/每小時500次
4 Socket 500次/每小時500次
測試規格: 測試完後,其接觸阻抗每一端子變動增加量,不可超過E1步驟所量測之30 mΩ
測試儀器: 使用插拔機及夾治具,調整完測試速度後,進行測試
E8. Mixed Flowing Gas (略過)
E9. Continuity 低階電路(端子)接觸阻抗對PCB
測試規格: 測試完後,其接觸阻抗每一端子變動增加量,不可超過E1步驟所量測之50 mΩ
測試儀器: 使用微歐姆機進行測試
jeffhan --- 2007-08-04 10:15:26
6
是不错的东西,顶一下
longfei82 --- 2007-08-07 09:29:54
7
nosoet88 --- 2007-11-08 11:11:35
8
谢谢分享~!楼主不错,呵呵~!
nosoet88 --- 2007-11-08 11:14:39
9
请问下楼主,还有没有DC连接线的相关资料。。。
xuzhenhai --- 2007-11-30 10:04:07
10
ABCDE是什么意思啊???
是USB的种类吧???/有什么区别??
ilextian --- 2008-05-04 11:09:42
11
还行,但我想知道在测耐压和低阶阻抗时加焊辅助线为什么是26AWG线,9.5mm呢?
saidesi --- 2008-05-15 10:38:18
12