USB 3.0裸线28+28+24,打样过很多次,但是3.0总有一对不过,要不差分共模,SKEW和衰减。请教一下群里的高手们都怎么做的?<div>30AWG和28AWG裸线大家测试多长?遇到问题最多的是哪些,大家一起交流交流。 谢谢!</div>
28+28+24的测试过2m是没有问题的,如果skew都不过的话,差分共模不可能通过。
对绞是用什么机器完成的?如果对绞没达到100%退扭,SKEW值很难通过。
对绞都还好,就是集合不过。总绞没有退扭机哦<div>集合时大家有什么好对策啊。。。</div><div>
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最近更新的 MICRO B 我正在制样 纵包效果diff_to_com不太理想,正在双层卷包 效果OK !! 我能感觉到28AWG认证没问题
28AWG A TO MICRO B 我的测试长度0.7M
一般讲很难过差分共模,领亚百亨做同类线材都不是很稳定!只有偶尔能过差分共模。我司做的也是很难过!其他的项目都没有问题!如果就你说的应该是芯线发泡度的问题,还有就是在对绞、集合制程中的影响过大:张力过;绞距设计不合理;其他因素等!给你对绞绞距24~27mm集合绞距80+-5mm发泡度35%~38%水中电容112+-1pf/m,同心度大于96%(28AWG单层发泡)。可以试试,信号对项目所以问题可以解决!可以只有差分共模不稳定会有不过的现象!
你们公司发泡28AWG C做112啊? 是不是太大了点啊? 你的线径要做很大吧
我们都在做INT 内接线标准。

如果延迟较大,且阻抗或衰减有较大波动,则可能料发泡有点问题;<div>如果芯线延时差都ok,对内延时差太大则是对绞出了问题</div><div> 对间延时差太大则是线对共绞绞距有问题</div>
很多厂家都曾遇到这问题,不奇怪。
出现这样的情况,要从芯线、对绞、集绞三个工序着手,例如:既然集绞对线材的损耗没法避免,那对绞就多预留点空间。具体情况可以联系我的,帮你全盘搞定,电话:13715123158 詹生
感谢大家参与<div>
</div><div>制样时测试通过,只怕订单不稳定哦。还是改善对绞总绞制程。对绞制程就一定要预留足够的余量。</div>
最关键的是要好的设备,至于设计及生产工艺大家其实也都很清楚的了。<div>28#的裸线scd21完全可以做到30db以上,合格率100%</div>
28AWG USB3.0做2M那是很轻易就可过的,3M衰减比较难测。
拿线去LITEK测试不就知到问题 ,
还教你如何改善 , 不就解决
路过,学习下,,,,

完了,3.0的还没整完,3.1又出来了,大家都跟上了没
3.1的现在有人做吗?高频要求太严,我司暂时不考虑生产。你们做吗?