HDMI 24AWG裸线 测试长度10米，衰减高频不过，请高手指点 - 简版
HDMI 24AWG裸线 测试长度10米，衰减高频不过，请高手指点
［管理员 在 2007-6-22 21:31:47 编辑过］
第一点是导体的因素也就是长度的影响，如果绞合导体是我建议用放小铜绞绞距这点的改善
第二点，放小对绞绞距
我的线材却是在低频段稍高出一点点
我也是在琢磨这个问题呢
改小导体绞距.
控制好芯线的电容稳定性和真圆度,
改小对绞绞距和增大包带张力!!
同意你们的说法将导体绞距减小;高频测试Atten Fail 主要原因还是你制程没有控制好,对绞绞距用多少....铝箔数是多少.
建议从以上几点靠量!
把你的参数提供上来才能分析呀
7楼的公会元老：
护套的松紧度对衰减怎么个影响法呢
能详细解释一下吗？
谢谢！
请问导体绞距如何影响高频衰减，谢谢。
减小导体绞距，第一可以增加导体的实际截面积，
第二，可以控制导体的圆整度，进一步控制电容
谢谢12楼的解答。我的理解是绞距越小，导体的物理长度会越长，然后电阻也会增大，这一部分增加的电阻是否会抵销因接触面积增大而减少的电阻。另外，绞合导体只要有接触在一起，其表面积是否就应该固定而且不再变化。以上请12楼的指正。谢谢。
光看这个图形还难以分析,要全面来看,导体芯线设计电容,不过有一个最主要的是你是用化学发泡还是物理发泡,
对于粗线,一般情况下要用物理发泡好一些,芯线管控是最重点.
这个也太不行了吧。
改用镀银铜吧。
楼主:对内延迟差是多少?
看了楼上的测试的报告,我提几点意见:
1.贵司的测试软件需要升级，现在测试都是用的１．３ａ测试的，当然从你的波形来看，ＡＴＴ也是过不了的；
２．要改善的话请你将参数尽快提上来（绞距材料等）
３．芯线押出时一定要注意绝缘与导体的附着力，没有附着力可以不用测试，ＡＴＴ一定是过不了的．
请问楼上的芯线没有附着力ATT不能过要怎么理解，谢谢！
albert0829兄:
att的意义是指输出电压与入射电压,相比讯号损耗剩下多少,如果att的数值越近于0时,表示损耗的情况越少,反之,att数值越负时,表示损耗的情况越严重.如果绝缘与导体的附著力不好,信号要传输的过程中四处乱逸,对att影响较大.
当然,上面各位同行所说的电容,真圆度也是在考量之中的.
請用24AWG導體的上限,請盡量放小導體絞距,絞合時請控制真圓度,保證導體表面的光滑平整,因為信號的傳輸是集膚效應.對絞的絞距建議在25mm左右,隔離材質請盡量包緊.如果機臺條件允許,建議在制程中使用返撚生產.
我同意上面所说的,导体节距放小,另外还有芯线发泡度可以再放大一点.
請教一下，這份測試報告中，連接器阻抗部分數據如何呢？可否提供圖形參考！
对绞绞距30mm,线径1.70
jhonme98:
对绞绞距30mm,线径1.70
老兄，不对吧，你这个结构发泡度只有25%左右？出现问题的频率点对应的波长大概31mm,所以以上建议将节距减小到25是理论上比较合适的。但节径比只有7倍了，是否会引起绝缘变形加剧，如果对绞没有退扭的话会更严重。
可能為絕緣芯線的材料問題，導致衰減高頻掉下
建議換一種材料試一下，
在于你的导体均匀性，虽然到了1GHz 以上导体影响很小，介质影响最大，但导体不均匀导致介质也无法均匀覆盖在导体上，
理论上看起来理想的绝缘，实际上内部是不均匀的，这将引起高频表现不良。
第一点:阻抗测试值是多少，我看你825.8MHZ-3300MHZ都是合格的，我个人认为上述说导体有问题是靠不住的，我有确认的是你是物理发泡还是化学发泡，如果阻抗在105左右还是不合格的话，建议用物理发泡。
第二点，一般而言，在高频往下掉大部份为芯线的问题，请看看你的成品测试电线是否有押伤的现象。发泡的一定要做FOAM+SKIN+FOAM结构
1.芯线绝缘结构改为S-F-S物理发泡(发炮度推荐在55~60%)
2.改小点对绞节距离,增大绕包张力,
3.真正HDMI应用是采用眼图测试的,
结构稳定性
挖,楼上的真的很渊博啊.小弟是新人还请各位多多关照.
41樓的樓主，24AWG能過10米嗎？？？30AWG能過6米？？
你們用是的什麼高科技設備？采用什麼規范測試的？是1.3a的cat 1 還是cat 2來測試
以下几点需重点注意:
1.HDPE皮层厚度的是否均匀
2.在线电容是否稳定,可以将不良线材重新测电容应该会有变化.
3.保证线材的附着力,导体采用小的绞距,一般在导体外径的20倍左右,对绞或成缆集合要有退扭设备.
个人建议将铜线尺寸再偏上限一点，导体和对绞绞距改小，护套用全套试试。
潜水的，偶尔冒个泡！
这个做得是太差了，制程没有控制好的原因，另外也可以增大单导体线径，增大截面积。
这需要考虑多方面的因素，要看你报告和你的实际做的线材规格到底是多少入手才可以的，不是随便说哪里？其实每个环节都是相互的
絞距小並不是物理長度問題，絞距縮小是增加絞銅的真圓度，從而在集膚效應上減少衰減，像樓主這樣的事，是絕緣材料問題，改用介電系數較低的材料就可以了，或者發泡度加大些也可以。
在绝缘线生产工序就控制好线的同轴电容，保证不同颜色线芯电容的偏差在1PF 之内！再者绞对的节距得注意！
楼主可以短讯我您是哪家公司吗？你设计的对绞和总绞绞距分别是多少？
不知道你们导体用的绞距和对绞绞距是多少呢？
可不可以提供出来分析一下啊？
呵呵;如果说线材本身的衰减过不了的原因太多了>导体的纯度.加工的工艺等等.见意你用一下TCU做导体!还有你测试的标准是:1.3A.还是1.2版呢?
影响音素：衰减受到导体尺寸、导体材料、绝缘材料、阻抗和频率的影响。
具体措施：将绝缘外径加大,水中电容做及特性阻抗做到上公差即可．
1.應該從多方面去考慮.人.機.料.法.環境.
2.當然可以先從材料方面去抓問題.你們現在是用哪種發泡方式?
物理發泡還是化學發泡?
3.開機參數以及模具選擇都得去查一下問題點
4.測試方面也要注意.治具有無問題?
建议你用单支裸铜导体做.估计的你的阻抗也不是很好.主要电容不稳定.建设收线张力用称重方法控制. 张力架远近张力要适中.即可以自动反馈控制. 水中电容器的水尽可能不要波动.
这个问题好解决呀。1.提高导体的截面积，即增大导体的单支外径，这样成本会增加一些，但改善衰减很有效；2. 制程能力要提高，特别是芯押段，保证电容和线径的稳定性。 我现在做30AWG的HDMI，就可以做6米，24AWG的线过10米一点问题都没有。
请问阁下哪家公司的？
能否留个电话？
大家好,,我是剛進這個論壇的,,以後請大家多多關照..
針對樓主24AWG 10M ATT測試NG.依我的經驗來看,主要是對絞絞距太大造成...
可以先反掺再对绞。
不好意思，我只能过6M 1。3B的二类线，一类线可以过8M
衰减还是过不
24AWG的对绞节距要多大比较合适？
会长， 此问有没结果，期盼已久。
这是因为屏蔽没包好造成的。
楼上的你们是这样做的吗
1.最主要的是你是用化学发泡还是物理发泡
2.不需要絞線.
3.同心度95%以上
4.单条铜线24awg10m一定過
现在阻抗多少，包带是展翅还是铝箔加热熔麦拉？？？？？？？？？？？？？
主要从两方面改善：
首先要考虑到导体与绝缘的匹配直径，可将导体的绞距缩小，这样会略增绞合导体的截面积，有利于衰减的降低。
再者要考虑到屏蔽的衰减，信号在传输时，由于电磁波的缘故，信号反射的渗入度约为12UM，所以增加展翅铝箔的厚度减少编织的密度可降低衰减
这是我改善衰减的绝招，只允许HDMI的同行好友借鉴。
有兴趣的朋友请与我联系交流。联系方式： tong2010.good@163.com
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导体绞距越小，对衰减的影响好像越大。可是现在也有种说法：绞距越小，衰减越差。其实我也是支持第一种说法，可就是不能证明这点，请教下大虾是否有什么方法证明这点呢！
其实导体绞距是要小一点,最重要的是发泡押出这边电容,线径一定要稳定,还有对绞时的电气控制都是很重要的.
呵呵！
看到上面各位高手的評論真的很精彩，我們公司10M HDMI產品 1..2版2005年就通過認證了，但現在10M 要通過1.3 cat2的測試標準還有點問題，總是衰減不良，也實驗的很多方法了，還是fail.還請各位元老幫忙指點一下。
聯絡電話：076926241358
聯絡人：劉先生
从上面的图片可以看出，是你的发泡材质存在问题！
出现ng的问题基本是在高频部分！你的导体也要引起注意，你的导体如果再小点点，你的衰减在低频就过不了了！
呵呵！
看到上面各位高手的評論真的很精彩，我們公司10M HDMI產品 1..2版2005年就通過認證了，但現在10M 要通過1.3 cat2的測試標準還有點問題，總是衰減不良，也實驗的很多方法了，還是fail.還請各位元老幫忙指點一下。
聯絡電話：076926241358
聯絡人：劉先生
这个事我可以告诉你，是你的设计与制程都存在问题，MAIL:USB830617@.126.COM 13061154021
芯線是有問題,比如圓整度,及芯od及電容的穩定性!
加锡包啊!交叉绕接。15M没有问题
看这个测试图型就知道是1.2版.10m还过不了
１．对绞绕包工序时有没有进行测试，根据测试结果决定包带的松紧度及是否需要更改对绞节距
２．成缆工序采用的是什么机器，４Ｐ信号线是否有退扭？
３．如果以上两点都没有问题的话，那只能从芯线考虑，是否设计有问题
对捻P设计编小,那不是意味线材更加长!
衰减肯定通不过!
请问设定的P是多少?
請問測試的SKEM如何?有道理！减小导体绞距，第一可以增加导体的实际截面积，
第二，可以控制导体的圆整度，进一步控制电容
改用镀银铜吧。
广意通讯用单条铜物理发泡绝缘，按照 1.3 版 一类线标准测试可通过30米。老兄,你用的什么技术和什么测试标准呀,能过30米,
银的成本很高！
测试衰减高频不过我厂有碰过，找不到原因 ，最后就称重量，1对线内两根线重量相差越大衰减就越差！
解决的方法1.就是用同一台压出机做同一对线！
2.如有注调机就去掉看下！有可能是注调不均匀造成！
3.再单绞机的张力打大点，不可过大，可边测边调！
加锡包啊!交叉绕接。15M没有问题
能不能說詳細一點？
好象对最初问题还没有很好的解决呀,需要高手出现
我一对芯线对绞时同时包单面铝箔+麦拉带与展翅铝箔.结果测试出来单面铝箔的效果比展翅的还要好费解呀???
我做的线材却是在低频M1、中频M2、M3段稍底出一点点,如何改善这个问题点？
就底了2个DB！高人指点！
这个也太不行了吧。
改用镀银铜吧。
建議用鍍銀的導體
影响衰减的原因不过只有以下几种情况:
1.导体截面积.你是24#线.这一点可以排出
2.线材长度,你是10M,24#号正规可以通过15M完全保障.我公司也做过相关试验,这点也可以排出
3.对线延时差.因为HDMI是根据差分式传输信号.这可就是关键1.你看你4对中每根导体是均匀,芯线绝缘是否一 致,ID是否有过大的大小差别,绞距是否一致.
4.芯线介质常数.上面还不能解决这是第二个关键.导体在空气中传输信号是最理想的,差不多可以接近光速,发泡的目的也是让导体更多的与空气接触,发泡度越高,介质常数就越好,看你4对的发泡是度是否符合要求.
5.如果以上你都符合了,你的线材可以做15M
針對樓主24AWG 10M ATT測試NG.依我的經驗來看,主要是對絞絞距太大造成...
特性阻抗是否偏下公差?如在下公差則會有問題
9楼的问题我来答下：
具体影响有几点：
1.其结构不稳定，造成对绞线各点的中心距不一样（就是电容不稳定）
2.线松还造成其屏蔽差对衰减也有影响
3.频率高了其传输就会有“趋肤效应”只在导体表面传输，减小绞距可以增加导体截面积，使其传输速度提高。
那你就要在对绞上轴时先抽几米测一下,如通过了可以开始绞了,如不通过再调嘛...直到调到OK为止..这样做出来的线材才能保证过...
通不过10米,其实我们大家的你只能做一个参考,具体的,你还是要根据你工厂的设备,技术水平去进行调 整,试样,直到能通过测试为至,因为通过试样,你才能积累经验,
線越長導體建議改用單條的.倒是沒必要用到鍍銀銅.太貴了.老板會受不了
把你的参数提供上来才能分析呀
今天在做24#的样品，1.55绝缘外径，水中电容控制得很稳定，而且同心度也是90%以上的，但就是测试不过，试了一天都不行，对绞节距从18倍改到11倍，始终没改善，狂郁闷中。
26#以下的我们做得很稳定的了，竞被24#难倒了，明天再试
主要還是要控制好芯線這一關,如ID偏差,真圓度,電容.
线的测试问题去问 ” 厘科 ”
真的很牛的
0755-27326621
衰減不過的原因有以下以點,
1.發泡度有沒有控制好,一般水中靜電容值最好控制為85±1(化學發泡).
2.偏心率的控制>95%.
3.對絞時,張力控制均勻,絞距控制好.25-27
我们也有跟你们同样的苦恼啊，不良太多，我们做的还是L：10M的
我也赞同缩小绞距
我們8m成品衰減不過.
10m&12m衰減和眼圖不過.
鬱悶~
加放大器
请问12楼主：20米测试OK！是指ATC测试吗？还是只是过1080P？
1080P的话还是挺容易的。
谢谢！
改做平行线
小弟新人，想了解下HDMI线的构造，和目前市面上同样材料，同样米数但是价格差距很大的HDMI线的原因？
造成这个现象的原因：
1）线材的材质，比如我们厂里做的时候主要是用BC和TC两种铜线做，但是有时候用SPC和AG做，同样的24AWG线材，加工艺相同的情况下，价格由高到低分别为：AG->SPC->TC->BC
2）线材的品牌。这个不用多说，你也知道了！就像现在的手机一样，同样的功能，山寨手机只要几百元，而像诺基亚、摩托等就要贵很多哦！
1）生产线的涨力控制同样要求大小合理，其原则不能拉损导体。 2）化学发泡 --- 发泡度不稳定，外径公差大，其结果是阻抗不稳定，回波损耗大，衰减也差。 物理发泡 --- 发泡度稳定，外径公差小，其结果是阻抗稳定，回波损耗小，衰减也好。但存在内导体有移动和绝缘体受潮问题，同样对衰减有影响。 3）Skim-Foam-Skim 三层物理发泡 --- 具有物理发泡的优点又解决了导体有移动和绝缘体受潮问题。是HDMI产品最佳的生产线。 4）偏心率 --- 设法控制在97%以上。 5）外径控制 --- 公差在 ±0.03mm以下。 3，对绞：1）绞距设计 – 绞距不宜太短，不但降低效率还会增加传输长度，可以经多次实验后选取最佳长度。 2）设备要求 – 由于HDMI 线材的要求高，对绞机最好要选用有退扭的对绞机，目前市场上还是无退扭设备多，这款设备在对绞时芯线的内导体会扭动，每一个绞就会扭动一圈，内导体和对绞同方向时，会在原绞合的基础上再次绞动，如对绞绞距是35mm时那就会在35mm长度内已绞合的内导体再绞紧一圈，即是在35mm内增加一个绞合，可想到已绞合的导体所受的损伤，原和绝缘体已紧密的状态也受变化。反之，内导体和对绞反方向时，内导体会反方向退出一绞。 3）对绞机的涨力控制 – 用控制对绞后的长度来调整涨力，对绞两条芯线的长度差异控制在0.5%以下，即取1M长的对绞线，分别测量长度，尽可能越小越好。这一项很重要。 4，内屏蔽和地线：内屏蔽和地线要确保良好的接触，地线不能和芯线同时绞入，会铠进对绞线内导致和屏蔽层的接触不良。 5．后面的工序：以后的工序虽然影响不是很大，但决不能对已做好的半成品有半点损伤，如涨力，压轮，导轮，排线，运输，存放等都不能大意。 请多指教！
请教: 1. 对绞的张力和包铝箔的张力的实际参数(我们用的是立式单绞机)
2. 未知pe的发泡度(化学发泡), 如何计算水中静电容, 如何确定绝缘芯线外径?
请各位大侠帮帮忙, 现在正需要中, 非常感谢!
保證衰減,首先要保證線材結構的穩定(工藝設備很重要), 再參考以下參數:
1. 衷減與以下參數成正比: 芯線的水中電容; 對絞束絞外押的收放線張力;
2. 衷減與以下參數成反比: 芯線絕緣發泡度和ID; 導體直徑; 對絞絞距.
根據您的測試情況, 調整以上參數, 會有一些效果.
其实衰减不过最主要的原因就是导体之截面积.所以你先看一下你7条铜丝的大小是否均等.如果都是0.203以上我相信不会有太大的问题的.再就是你的发泡度.其实发泡度对衰减也是有著很大影响的.
24AWG线材由于导体比较大，对铜的要求很高，不能跳股，绞距8.0M/M左右，芯线颜色要配对做，对绞配对；尽量上线册测试60以下，总绞绞距放长.张力调好.1P黄橙绞距放到最大。也可以4P不用对绞 ，用饶包机包yubo/M。
改单芯导体吧。
恩 控制水中靜電容量 銅導體絞距 或採用鍍銀線 這些都是有效的方式吧
你们好!
请问你们测HDMI是什么型号的仪器
其实是跟里面的空间大小有关系~~
紧一点里面的空间小，空气少~~
好像是导电系数小了吧（记不大清楚了）
看看衰减图形的平滑程度呢？
做平行结构的是不是会好点!
做平行结构的是不是会好点!
第一点是导体的因素也就是长度的影响，如果绞合导体是我建议用放小铜绞绞距这点的改善
第二点，放小对绞绞距
我看了LS很多的都讲要求把绞铜及对绞的绞距都建小，
但对于企业来讲呢？不是增加成本了吗？
其实我们做设备的也要不断改进，花最少的钱买最好的设备。
看过楼上很多提到加大绕包张力来改善衰减低频问题，但依我们厂生产经验，如果低频不合格减少绕包张力反而会有改善。
另外，衰减不合格和导体的含氧量也有一定的关系.
24的應該可以的。
我們28的都過了
28AWG的能过是神仙呀！28AWG HDMI过1.3B的5米都非常困难，你们上机测试哟？
大家来分析一下吧：
•Attenuation又称loss 或 insertion loss,是讯号在传送时的能量损失。它发生在线材及接头部份。
•影响因素 长度 绝缘体的材料 导体 的尺寸 信号的频率
•相应的 绞距 绝缘材质 导体的大小
•标准化的 attenuation=attenuation*(100/c)
•C=线材的长度(单位m)
•与温度的关系 attenuation=x*1/(1+0.022*(t-20))
•这里的 x=标准的 attenuation t的单位为
24号做10米是可以过的
控制Impedance在愈小的变化范围愈好
固定的Impedance 才能减少讯号能量的损失.(即匹配性)
大家好！我是新来的请大家指多多教，我们生产的HDMI线过不了10M导体是单只铜
0.30的,是化学发泡,实测也过不了,请指点.
制成有点复杂
以前我们的产品也发生过这样的问题，建议你可从以下几方面考虑改善：
1.绝缘外皮采用物理发泡;
2.改善水电容
3.改变对绞绞距(一般在25MM左右)
改小导体绞距.
控制好芯线的电容稳定性,護套的松緊度
制程作业也很主要
1.导体是否有接头?
2.是4对衰减都不过,还是其中1对或2对不过.
3.张力是否符合要求?
4.绞距是否符合要求?
建议导体改成单条的，芯线是重点管控的工段
你用的发泡静电容多少？用渡锡铜啦！
TCU是什么导体？ ^_^;呵呵;如果说线材本身的衰减过不了的原因太多了>导体的纯度.加工的工艺等等.见意你用一下TCU做导体!还有你测试的标准是:1.3A.还是1.2版呢?
收线张力用称重方法控制？？？建议你用单支裸铜导体做.估计的你的阻抗也不是很好.主要电容不稳定.建设收线张力用称重方法控制. 张力架远近张力要适中.即可以自动反馈控制. 水中电容器的水尽可能不要波动.
能不能具体说下，
10M都过不了，还做什么电线啊。换个好点的导体1/0.525SPC，芯线做1.35，采用物理发泡，控制好绞距就OK了。
SPC是什么导体，具体说下，
改小导体绞距.
控制好芯线的电容稳定性和真圆度,
改小对绞绞距和增大包带张力!!同意以上观点我顶/杨秋红
请教是不是AWG越小越好？
衰减影响因素：
◆线材导体截面积◆线材长度◆线材Intra-pair Skew◆芯线绝缘介质常数◆原线材阻抗匹配导体截面积与线材长度是一定的，我们只要去分析后三个影响因素即可。这种大AWG数的最好采用物理发泡生产。
改小导体绞距.
控制好芯线的电容稳定性和真圆度,
改小对绞绞距和增大包带张力!!
对绞时小心线材不能压扁
可能是绞线节距的问题。
问题可能出在发泡后者绞距上面
减小对绞绞距并要求节距均匀
我建你将原来的对纹改为平行, 这样做衰减就一定没有问题了.可是摇摆过不了了.你可以考虑一下.
单条铜有点不太可能的
衰减也可能是偏心造成的，一般按照30#的规格去做的话是可以通过的，有时候是焊接的时候有虚焊也是不好说的
有些不明白的問題想請教：用單根銅在對絞及總絞時不會有影響嗎？
不赞同！
首先，减小导体交合节距，截面积增大，导体直流电阻减小这个说法就是谬论；
其次，12um以上铝层厚度仅适用于50MHz以下，衰减很有效，高频我测试过，7UM和9UM的没有区别的，反而厚了，加工容易线缆加工工艺难做，很难伏贴。
最后，不知道你怎么会研究出来编织密度和铝箔的关系的，一般铝箔铝面朝内的，外还有Mylar，这个就搞不懂了。
还望高手指教
前面过了，后面一下掉的那么厉害还是要从制程控制找原因：
1.芯线押出时电容稳定性：同心度、内外眼距的改变对附着力的影响、发泡方式及发泡度、还有导体最好采用小绞距的；
2.对绞：给线的张力及包带张力控制，绞距可以适当小一点，每对的绞距适当的错开1~2MM；
3.人为因素.
这个问题好解决呀。1.提高导体的截面积，即增大导体的单支外径，这样成本会增加一些，但改善衰减很有效；2. 制程能力要提高，特别是芯押段，保证电容和线径的稳定性。 我现在做30AWG的HDMI，就可以做6米，24AWG的线过10米一点问题都没有。
30AWG的HDMI，就可以做6米
请问是过1.3 CAT 2 的规范吗？
大家都说的有道理,我认为24AGW线材10米的线材高频是可以过的!还是查一下你们自己制程中的问题吧!不过将绞距改小是可以增加高频性能的
影响衰减的因素有：导体，绝缘介质，绝缘线径，对绞节距，对屏蔽松紧，对屏蔽厚度，成缆节距，总屏蔽厚度，对内延时
东莞新杰电工机械有限公司
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张力加大一点
现在导体24AWG，应该不是横截面的问题，考虑一下导体的阻抗特性，以及绞距，也可以由多股导体改为单根导体
我第一次进此论坛，从事高频线缆研发3年，此现象公司刚起步时是很常见的，解决方式如下
从图形角度来分析低频段不是突波，说明低频825MHz不是坏点，而是设计上的问题，如a. AL-foil的方向，b.导体OD，及导体形式（建议小绞距），c.屏蔽的张力。d.芯线同心度的要求，e.发泡形式（建议物理发泡）等等.而高频3.3GHz的突波，是坏点，原因很明显是压伤，是制程上的原因，如此大的突波个人认为，分析包带后的图形，如是正常，肯定就是集合总绞时押伤。建议可缩短绞距将突波移出4.125GHz，但只是移出，不代表是好线。测试10m如不是物理发泡很难过的，除非并线。
QQ:273272906 安娜帝 欢迎打扰 哈哈
大家一直有个误区，认为绞距小高频衰减会好，不是的，这个观点是错误的。
如有机会大家可实验下，同样的FEP芯线，衰减和绞距是没有关系的，即绞距影响微乎其微。
而普通的HDPE,尤其是发泡线材，当绞距越小的时候往往低频会好，而高频（高出10G的NA测试明显可观察到）会很烂，绞距小PE很容易押伤（而FEP或PFA不会押伤)，即使微小的押伤当叠加（坏点波形突变的叠加）后都会体现在衰减上，只是一般的NA测试不到的高频点而已，驻波比或是回损都会很烂！给人一种优秀的错觉，如果要求到绝对高频绞距缩小不是办法，反而弄巧成拙，只能从材料入手，或是并线。
以上个人观点，望同行指点
QQ:273272906 安娜帝 欢迎打扰 哈哈
你的导体是多大的啊？是什么材质？
还有制造工艺有哪几个？
比较重要。你说说可以讨论下。 我们做的过了。。
1.改导体铜包钢。
2。将对绞放大。
我建议如下；
<DIV class=xxxxContent id=deds5 style="OVERFLOW: auto; WIDTH: 100%">改小导体绞距.
控制好芯线的电容稳定性和外径的均匀性,
增大对绞绞距和增大包带张力!!
</DIV>我们做过15米了。你现在的阻抗是什么状况啊？ 要用点心思在包带 和导体的改良上。话不多说。。。。
这应该和绝缘介质的均匀性有关系，建议采用物理发泡，还有就是对绞绞距和包带的贴合度。根据集肤效应线材的高频传输主要是在导体的表面，所以增大导体的od不一定能解决此问题，如果是低频部分不过，就可以考虑加大导体od。另外还需考虑绞线过程因应力作用对芯线产生损坏，故建议采用返捻退扭。有不足之处还请各位大侠指正。
改小导体绞距.
控制好芯线的电容稳定性和真圆度,
改小对绞绞距和增大包带张力!!
具体的目的是什么呢？理论上讲改小对绞绞距，其路径长度更长，绞入率增大，衰减更大才对
建議低頻改善使用鍍銀單股銅,直放
高頻部分應該是制程未管控好
1.導體加粗;
2.導體表面電鍍;
3.多股導體改為單根導體
参考HDMI协会测试标准，24AWG裸线材高频数据测试是不可能过协会要求的。我们判断是否能通过测试，第一是要看低频的825mhz,这个点决定了线材的长度，是和导体的截面积有关的；第二再来看其它频率，这个是和绞线的绞距大小有关的。绞距小的比较稳定。
我公司做的20米可以通过
請用24AWG導體的上限,請盡量放小導體絞距,芯线押出時請控制真圓度，静电容量控制在正负1pf以内,保證導體表面的光滑平整,因為信號的傳輸是集膚效應.對絞的絞距建議在25mm左右,隔離材質請盡量包緊.如果機臺條件允許,建議在制程中使用返撚生產.
用单条铜线试试，中山有一家电线厂是用单条铜做的，20米测试OK！我们正在学习！
单条铜线柔软性怎么解决
高频衰减不过这种情况较小的
镀锡绞丝可以缩小一些，但也要根据你的阻抗来调控。
注意好你的发泡度
光加在发泡度也不对,要根据你的阻抗再做调整
你那里电容稳定吗，还有包铝箔要紧
樓主，把對絞絞距縮放到22就可以了。
22的话线材不得被扭伤啊？
单条铜线柔软性怎么解决
是中山的那家公司啊，
八成是我们供的线材
大侠，能解释一下三层压出是什么意思吗？
主要是看发泡的程度是否一样吧！
信号传输时因导体有阻抗而导致遗失一些, 通常与长度成正比关系.
改善衰减:
1. 导体加粗, 如 AWG22
2. 导体表面电镀
3. 多股导体改为单根导体
镀银铜也太贵了吧？有HDMI CABLE的成本计算吗？一個好的問題拋出,眾多同行檢討
結果?
樓主也要回覆一下,改善沒?
讓新進成員,也能學習
感謝
低频不良,与导体AWG大小,线径,电容 ,同心度有关系,建议从这几方面考虑,高频呈波浪状,对绞绞距太大了,建议22~25, 使用先裸绞后包铝箔,铝箔不要太宽,但是重叠率要有25%以上.铝箔要紧
<div>谢谢12楼的解答。我的理解是绞距越小，导体的物理长度会越长，然后电阻也会增大，这一部分增加的电阻是否会抵销因接触面积增大而减少的电阻。另外，绞合导体只要有接触在一起，其表面积是否就应该固定而且不再变化。以上请12楼的指正。谢谢。
</div><div>你的导体是漆包线吗？</div>
漆包线有什么不一样吗？
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</div><div>你的导体是漆包线吗？</div>
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</div><div>可能是长度长了，绝缘材料采用的是哪种？</div><div>
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</div><div>我这边做的试样数据很差</div>