听说衰减只能用NA测试，而SKEW只能用TDR测试，不知道对不对？

    那位大侠能够帮我详解一下NA和TDR是怎么测试的。

    请各位大侠赐教！在下在此先行谢过！

NA可以分别测试输入端的压降(Vin)&输出端接受到得信号的压降(Vout)&输出端接收到的反射信号的压降(Vref)，根据定义

衰减=-20log（Vout/Vin）

RL=-20log（Vre/Vin）

还有串音等等

TDR可以测试阻抗、Delay、Skew、极限眼图等等