呵呵，支持

脑袋瓜开窍了

多多支持，现在也在研究双绞线的屏蔽衰减测试

之后我将在此不定时发布一些关于编织型同轴电缆屏蔽衰减与转移阻抗的测试情况，欢迎围观讨论。之前测试发现，结构相同，编织丝不同时，屏蔽衰减差别主要在高频差别明显，而30MHz到100MHz差别不明显

有无进一步的研究成果可以分享讨论啊，呵呵

http://www.dxdlw.com/ShowPost.asp?ThreadID=17120大家可以参看这个屏蔽数字电缆转移阻抗的测试研究，这个参用三同轴法，测试跟同轴也差不多，是把带屏蔽的数字电缆内导体连起来作为“内导体”屏蔽做外导体进行的测试。

另外多说一点，看过这篇文章我发现作者研究耦合长度与波长的比值变化与测试误差的时候，其实用电缆的截止频率的概念来解释，耦合长度的变化对于测试结果的表现更直观，根据IEC62153-4-7表述的式子可以看到，不管是短电缆还是长电缆（电长度）其截止频率与耦合长度成反比例关系，即上截止频率会随耦合长度的增加而减小

上海电缆研究所在测