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现我在样USB 3.0 AF TO AM 中;在加工过后测试TDR其中AF端的特性阻抗偏高到105~115之间;同样的连接器同样的加工方法为何有测试OK也有NG,我这边做了8PCS测试只有1PCSOK ,现在也找了很多家的连接器在测试都出现同样的问题,请问各位兄弟有没有好的方法可以解决此问题!希望有经验的兄弟能给予好的建议;本人真诚感谢谢!
USB 3.0 A TO A Cable.pdf
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USB3.0的产品还不成熟,我们做的产品也测试不过
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LZ的阻抗偏高了,可以贴个图出来看一下。
大多数都是由于屏蔽剥离长度过长造成的,还有其他原因,不过要看你的加工方式是什么样。
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是不是加工过程中受挤压,或焊接等等原因,实际发个图上来看看
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把图放出来给大家看看吗,阻抗偏高原因有:(1)焊点过大导致间隙过小;(2)铝箔距焊盘的距离偏大。另外如果你有做内模的话,也可以将内模料PE改成PVC试一下,也可以降低阻抗值。
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间隙过小阻抗应该偏低而不是偏高
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多谢分享
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