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[问题求助] 有关TDR测试特性阻抗的疑问,请专家指点。

P:2010-10-13 15:37:58

1

通常用TDR测试差分阻抗的时候,时间坐标越往后阻抗就越高。不知是哪些因素造成的这种现象。(听朋友说有一份专门讲这个的论文。如谁有,希望能共享下,不甚感激)。

下图,由于线短,所以阻抗高的不是很明显,抱歉。

aluminium-smelting furnace - 熔铝炉 (0) 投诉

P:2010-10-13 15:53:59

2

TDR的本底噪声是否有一定的影响。

说到TDR我在这传一份有关TDR应用中常见的问题,和大家一起分享。(由于本人没金币象征性的收点)

NS - national standard国家标准 (0) 投诉

P:2010-10-13 17:40:20

3

这上面有没有高频专家啊? 分享一下给兄弟们

warranty manual - 品保手册 (0) 投诉

P:2010-10-15 08:06:54

4

期待高手解惑

alloy - 合金;纯度 (0) 投诉

P:2010-10-15 17:07:38

5

就线材本身结构而言,就会有这个特点的存在!你换另外一种角度想想!假定你是用NA测试的话越高频的地方衰减会越大,阻抗也会随着频率的增高而增大,所以不管是什么线材的阻抗会有一定的公差范围。你是没有办法做到没有公差的!你只可以做到公差做得你能做到最小就不错了!(记住)越高频的地方反射会越大)!!!

BASIC language - BASIC语言 (0) 投诉

P:2010-10-20 09:57:11

6

谢谢,5楼你的解答。你说的我明白,可是具体有哪些因素产生的呢?是否可以通过什么方式去改善?(比如:标准线就可以做的很好)

[ks638 在 2010-10-20 9:58:33 编辑过]

wet wiredrawing - 湿式拉线 (0) 投诉

P:2010-10-26 15:59:31

7

高手多多解答

maximum radial thickness - 最大径向厚度 (0) 投诉

P:2010-10-27 11:40:33

8

1) 线材样品的电阻累积﹕电阻有累积效应﹐DUT越长﹐累积效应会越明显﹔

2) 测量方式﹕很多时候为方便测试﹐在测试阻抗时﹐我们都喜欢采用DUT终端OPEN的方式进行测量﹐而OPEN端阻抗理论上是无穷大﹐从而无形中也会将测试曲线尾端拉升﹔如采用终端LOAD方式﹐有可效地减少这种终端拉伸效应﹐從而減小測試誤差

谢谢

 

possibility - 可能性 (0) 投诉

P:2011-11-23 09:41:07

9

金币一下子就没有了

star quad formation - 星形四线组成型,星形四线组结构 (0) 投诉

P:2011-11-23 15:56:10

10

不用太纠结这个问题,现在测试阻抗都是测试线材前端的一小部分,很少有测试整条线的。

说白了就是能量损失造成的,TDR是发出几百毫伏的电压脉冲信号来实现测试的,电压信号从近端走到远端是有损失的,阻抗计算过程可不管你信号的损失,所以阻抗的曲线是越来越往上偏的。

soldering seam - 焊缝 (0) 投诉

P:2011-11-23 17:32:39

11

5楼的“阻抗也会随着频率的增高而增大”,这好像不对吧?????

exit seal assembly - 出口密封装置 (0) 投诉

P:2011-11-23 23:28:11

12

围观学习

basic rate access - 基本速率接入 (0) 投诉

P:2011-11-24 07:57:41

13

10楼正解

Al rod double coiler - 铝杆双盘成圈机 (0) 投诉

P:2012-04-19 14:50:19

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学习中

continuous vulcanizing line - 连续硫化机组 (0) 投诉

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