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通常用TDR测试差分阻抗的时候,时间坐标越往后阻抗就越高。不知是哪些因素造成的这种现象。(听朋友说有一份专门讲这个的论文。如谁有,希望能共享下,不甚感激)。
下图,由于线短,所以阻抗高的不是很明显,抱歉。
TDR测试特性阻抗.jpg
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TDR的本底噪声是否有一定的影响。
说到TDR我在这传一份有关TDR应用中常见的问题,和大家一起分享。(由于本人没金币象征性的收点)
TDR应用常见问题.doc
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这上面有没有高频专家啊? 分享一下给兄弟们
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期待高手解惑
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就线材本身结构而言,就会有这个特点的存在!你换另外一种角度想想!假定你是用NA测试的话越高频的地方衰减会越大,阻抗也会随着频率的增高而增大,所以不管是什么线材的阻抗会有一定的公差范围。你是没有办法做到没有公差的!你只可以做到公差做得你能做到最小就不错了!(记住)越高频的地方反射会越大)!!!
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谢谢,5楼你的解答。你说的我明白,可是具体有哪些因素产生的呢?是否可以通过什么方式去改善?(比如:标准线就可以做的很好)
[ks638 在 2010-10-20 9:58:33 编辑过]
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1) 线材样品的电阻累积﹕电阻有累积效应﹐DUT越长﹐累积效应会越明显﹔
2) 测量方式﹕很多时候为方便测试﹐在测试阻抗时﹐我们都喜欢采用DUT终端OPEN的方式进行测量﹐而OPEN端阻抗理论上是无穷大﹐从而无形中也会将测试曲线尾端拉升﹔如采用终端LOAD方式﹐有可效地减少这种终端拉伸效应﹐從而減小測試誤差。
谢谢
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金币一下子就没有了
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不用太纠结这个问题,现在测试阻抗都是测试线材前端的一小部分,很少有测试整条线的。
说白了就是能量损失造成的,TDR是发出几百毫伏的电压脉冲信号来实现测试的,电压信号从近端走到远端是有损失的,阻抗计算过程可不管你信号的损失,所以阻抗的曲线是越来越往上偏的。
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学习中