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[问题求助] 特性阻抗测试方法的比较
P:2009-06-10 09:53:49
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您好!您这个问题好大了!如果要详细说明,一个上午也说不完,这里简单聊一下;
1)TDR当然是最方便最直接最省力的测量方式;
特别是对于同轴线,如果有治具,可省去打连接器的麻烦(当然,如果您是成品加工厂商 ,那问题不太,但如果是线材厂商,哈,可烦了)。另外 ,由于仪器的限制,用TDR一般不能测试很长的样品;
2)网络分析仪就是您说的频域方法,这种方法要求测试人员对仪器比较熟悉,设置方面比TDR麻烦一些,而且对于测试连接及系统校验要求比较高,在测试误差方面比TDR要高很多;
在网络分析仪上测试阻抗 ,一般来说,Smith图是比较传统的测试方式,不过由于Smith图有虚部和实部之分,读数方面要特别注意,不要单独读取实部就可以了,还有虚部的数据也要处理;网络分析仪还可採用另外一种方法即LINMAG的格式进行测试,这里就不详细说了;
至于开短路法,是相对于LOAD方法的另一种测量方式,至于哪种方法好,就与您要测量的样品长度以及开始终止频率有关,这里涉及到测量波长的问题,一句话,如果测量样品比较长,开短路及LOAD测试出的数据应该相差不大。
但正如开头所说,採用网络分析仪测量,误差比较大,同一个样品,不同人或不同系统,都会有一定的误差,务必要小心处理。
哈,说实话,这个题目真的很大,以上仅仅是拋砖引玉,希望大家一起讨论。
谢谢!
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