根据屏蔽层材料的固有特性，屏蔽层材料的电阻与温度有很大关系，测试过程中电缆屏蔽层温度的不确定性是导致试验结果的不确定的重要原因之一。为了能够定量分析电缆中半导电屏蔽层电阻随温度和时间变化的过程，本文分别研究了国内外不同半导电屏蔽料生产的电缆样品屏蔽层电阻与温度的关系，以及在恒定温度下（90 ℃）屏蔽层电阻与时间的关系，为完善IEC标准和国家标准中关于半导电屏蔽层电阻率的测试方法奠定基础。