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说了多少次了,这种问题要提供测试报告及图型,以及各工序工艺,才能给你一个相对准确的解决方案.
如果没有,大家你一句,我一句,搞得你晕头转向的,找不到真正的问题点,担误开发周期.
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你为什么要把对绞的绞距设为27.6呢~!~!设为27看看......
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电容87﹖你的线径是多少
衰减不合格﹐长度是多少啊
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请提供图形及具体线材规格供大家分析。 测试长度 Raw Cable or Cable Ass等等。
难过你分析问题就靠一句话吗？
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难道你认为你的ATT测试不过就认为是绞距设计不合适而已吗？
为什么不想想其他方面？像发泡方式。
另外测试不过的高频的时候最主要的原因是什么你了解了吗？
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欢迎新手！！！
个人签名很详细！！
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今天遇到和你的一样的问题，但我们做的样线今晚终于测试可以了。
电容88，对绞节距从50降到35终于测试稳定了。我们是在对绞时进行测试。
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还可以再降一些！！！
我想要了解LZ 使用的导体OD 情况吧。这样说真的没有依据。
请LZ 把这些资料发出供分析。
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朋友们 电容值及对绞节距 有没有固定的比例阿 大概的也成啊？
290150473@qq.com
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ch88858:HDMI 24AWG 成缆时衰减高频不过:化学发泡电容值为87，对绞绞距为27.6MM，请问如何解决？
正常
ch88858: