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[USB] USB3.1 IMR和IRL 不良,如何改善?求教大神

P:2022-03-04 20:42:41

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各位大神,新手上路,在做32AWG USB3.1 Type-C时,高频参数测试IMR(综合反射)与IRL(积分回损)不良,从线材上该如何改善,请各位大神指点Screenshot_2022-03-04-20-34-50-884_com.tencent.mm.jpg一二,谢谢!

PC - programmable controller程序控制器 (0) 投诉

P:2022-03-06 11:42:33

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要看每一对的数据吧,IMR 和IRL是多对数据综合计算的,估计有不稳定吧。

lag - 护板,撑板,撑条(线盘的) (0) 投诉

P:2022-03-14 13:56:07

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IMR 都NG 衰减应该很差,衰减弄直IMR就OK了,IRL也会好一些

cooling zone - 冷却区 (0) 投诉

P:2022-03-21 08:58:35

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这个原因比较多,有可能导体,也有可能是发泡度,也有可能是对绞,所以你得从工艺查找。

insulator corrugation - 绝缘子加强肋 (0) 投诉

P:2022-03-28 08:18:51

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可能是发泡度

MWh - megawatt-hour兆瓦小时 (0) 投诉

P:2022-04-25 15:40:46

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信号对的衰减要做成一条直线,不能有尖峰

take-up board - 收线盘 (1) 投诉

P:2022-05-23 10:27:51

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衰减主要分为两种,导体衰减跟介质衰减,低频一般跟导体有关,高频主要是介质,发泡度是影响衰减的主要指标,发泡介质也有影响,高密度PE高频衰减较好,可以适当提升高密度占比,其次不能忽略的是产品结构,如果外径、导体尺寸有变化会直接影响阻抗,间接影响衰减。测试温度也是影响衰减的主要指标,很多线缆未完全冷却前衰减是偏高的,跟环境温度不符,可以先放置一夜,或者提高一下测试温度。衰减跟回波不是一码事,虽然回波对衰减会造成一定影响,但多数时候可以忽略。回波峰值很有意思,记住计算的缺陷长度是准的,但是造成这个缺陷的原因不是那么容易分析的,不要被公式困住,实际问题实际分析。

irregularity - 不均匀,不规则;凹凸不平 (2) 投诉

P:2023-03-28 10:25:25

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drop point - 滴点;下线点,引入点 (0) 投诉

P:2024-05-18 17:38:23

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endurable - 可忍受的, 能忍耐的 (0) 投诉

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