S21 在16.14GHz出现一个尖峰，可以发现，回波损耗，驻波比，频域下的阻抗，都是这个频点发生了突变

时域下的TDR阻抗没有明显的不良现象

我的理解产生的物理原因，主要是制程中的参数不稳定，比如同心度，包袋张力等周期性变化

但是理论上来说，我不太懂

想请教大神，帮我理论分析下，为什么会在特定频率出现掉坑了，为什么其他频率却没有问题呢？为什么突变呢？

阻抗一般是不会随着频率突变的，到底是哪个参数在特定频率会发生突变，导致 回波损耗，驻波比，频域下的阻抗，相位 全部发生了突变呢？

从信号，电磁波，传输线的角度，理论分析下这个是因为什么呢？

以下图形，蓝色线是不良产品，红色线是良品，求指教。

Attenuation

TDR impedance

impedance real at freq

smith chart

VSWR

Phase

return loss

静等高手分析

我的考虑在外导体，如果外导体是铝箔+外层编织屏蔽的话，建议改善铝箔的重叠率，还有根据集肤效应计算铝箔的厚度，要100%屏蔽大概是10倍集肤厚度，在此基础上在增加5μ，铝箔张力要适中，太松的话容易导致屏蔽涡流泄露！

zhsazcf:

我的考虑在外导体，如果外导体是铝箔+外层编织屏蔽的话，建议改善铝箔的重叠率，还有根据集肤效应计算铝箔的厚度，要100%屏蔽大概是10倍集肤厚度，在此基础上在增加5μ，铝箔张力要适中，太松的话容易导致屏蔽涡流泄露！

谢谢，这个还是偏制程工艺方向的解释

我想要从信号传输方面，看能不能搞懂，为什么会在一个点突变，而其他频点却正常

不管是涡流，还是其他因素，为甚只有16.14G会有问题，而15G没有问题，17G也没有问题

lgf2005:

信号传输解释就是你的发射信号在16.14GHz这个点上发生了泄露或者折射掉了。阻抗发生突变，必然是你的结构产生变异了。

16.14GHz信号对应到0.018米波长，去你的产线寻找在这个长度周期波动的东西，而且产生这么多的SI信号问题基本是你的屏蔽层发生了问题，重点看铝箔和编织有无异常。（比如有没有过18mm直径的导轮，或者18mm左右周期变化的东西）

非常感谢回复，但是我还是没有完全明白，为什么这个波长长度的周期性的波动，会让信号（阻抗）在这个点突变，具体影响的计算公式是什么？

阻抗？ 根号L/C， 和频率的关系也不大

 谐振频率？  和波长的关系也不大啊

还望大神能不吝赐教

楼主5说的是对的，比如你的铝箔没包紧，不是所有的波长都对这敏感，比如串音问题，节距你要大于波长八分之一就不敏感，所有你的16.14G对应的波长对你的制程敏感，所有有凸波

同轴电缆一般测试有固定周期尖峰的线均可测到阻抗也是上图不良曲线，目标是解决回波不良

我是高频线的初学者，但是我上次做实验，故意把两芯对绕的张力控制的很大，导致绝缘材料变形了，测试的特征阻抗值跟你的情况差不多在高频短段特征阻抗值不合格，超过这个高频段之后特征阻抗值又重新的回归到合格的范围了，若是这样的话我建议你拆解一下自己的高频线  测试一下同心度是否变化，

你的绞距可能是绞合或者包带的绞距是不是有4mm或者8mm?

高频线掉线是否和绞线那段绞距不均有关

lgf2005:

信号传输解释就是你的发射信号在16.14GHz这个点上发生了泄露或者折射掉了。阻抗发生突变，必然是你的结构产生变异了。

16.14GHz信号对应到0.018米波长，去你的产线寻找在这个长度周期波动的东西，而且产生这么多的SI信号问题基本是你的屏蔽层发生了问题，重点看铝箔和编织有无异常。（比如有没有过18mm直径的导轮，或者18mm左右周期变化的东西）

直径18mm的导轮，长度变化周期不应该是56.5mm吗？

jhui8910:

楼主，请看下图，你在测高速线缆的时候，旁边其他的信号两头都需要端接，要不容易产生频率谐振

感谢回复。

1. 能否再具体一点，给个示意图，或者相关计算工时，这个谐振是怎么出来的。

2.如下我测试s4p，样品是一段约10cm长的同轴线（实际是20根同轴线在一起，两端有扁平连接器），旁边是没有信号的，

我的SDD21结果显示每隔 1.46GHz会有一个掉坑的尖峰，感觉与你举例的情况相似，如果我用手去按连接器部位，可以有效使这个尖峰变平滑，想请教这种情况，具体从公式分析，是改变了什么，电感？电容? 怎么关联到 衰减（或者回损） 上来的？

jhui8910:

楼主，请看下图，你在测高速线缆的时候，旁边其他的信号两头都需要端接，要不容易产生频率谐振

huashengzi:

感谢回复。

1. 能否再具体一点，给个示意图，或者相关计算工时，这个谐振是怎么出来的。

2.如下我测试s4p，样品是一段约10cm长的同轴线（实际是20根同轴线在一起，两端有扁平连接器），旁边是没有信号的，

我的SDD21结果显示每隔 1.46GHz会有一个掉坑的尖峰，感觉与你举例的情况相似，如果我用手去按连接器部位，可以有效使这个尖峰变平滑，想请教这种情况，具体从公式分析，是改变了什么，电感？电容? 怎么关联到 衰减（或者回损） 上来的？

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