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[USB] USB3.0的用量为何没有起色
P:2012-12-02 19:50:06
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High Speed Serial Link 产品(如USB、Serial ATA与PCI Express)的发展,已由主板应用出发,逐渐衍生更多应用于外围与消费性电子产品,进入百家争鸣的情况。然而不论是芯片供货商或系统厂商,都面临益形复杂的设计挑战。这些新挑战包含了:
● 更高的芯片设计进入障碍:与纯数字IC设计相比,High Speed Serial Link从480 Mbps、 1.5 Gbps、2.5 Gbps、3.0 Gbps至目前的5 Gbps与6 Gbps,一次又一次的考验IC设计公司在模拟设计与mixed-mode的能力。这也是为什么台湾只有少数公司能提供从Serial ATA到PCI Express与USB 3.0完整的产品与IP解决方案。
● 为系统厂商考虑Design Margin问题:对于系统厂商而言,采用一颗IC上自己的系统产品,最担心的是PCB Layout的design margin过小或是design rule太过复杂。因此IC设计公司必须为系统厂商考虑到这些设计上的问题,也加深了高速IO芯片设计的难度。
● IC量产良率:由于高速IO有物理层(PHY)部分的设计,因此对于IC良率的影响甚为重大,通常将PHY包入SoC内,往往是量产良率最大的杀手。所以如何透过模拟设计design margin的综合考虑,维持量产良率,对IC设计公司而言是相当大的挑战。
● IC量产测试方法:通常480MHz以上,往往需要使用较贵的测试机台;但是如果厂商能使用较便宜的测试机台,完成高速IO的相关测试,那就是相当重要的know how,对于IC的成本也有很的的帮助。
● 兼容性议题:USB兼容性问题,众所周知,所以才有USB-IF logo验证制度的产生。目前USB 3.0 logo certification program尚未完成,因此如何克服硬件兼容性的问题,是相当据挑战性也令人感到繁琐的问题。