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[问题求助] 使用TDR及NA测试特性阻抗的差别
P:2007-04-16 11:43:08
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从今天开始,本人来回答各位有关高频测试的问题.
第一个问题:
你的问题回复起来其实非常复杂,我简单的回复一下:
1.1你要弄懂TDR,NA之间的差别;
TDR发射固定频率信号(低频,一般200KHz)去侦测待测物在微小长度分段下的信号反应.它能准确定位最差信号发射的位置,
NA 发射不同频率信号去侦测待测物在不同频率信号下的信号反应. 它告诉你待测物在哪个频率下信号反应最查.
1.2你要弄懂测试的目的;
我们要测试例如HDMI 阻抗(impedance), 目的在于要搞清楚HDMI cable 在不同位置impedance的变化,而impedance 的 变化决定于cable的结构变化,我们要的测试结果其实是弄清楚最差信号发生的位置,所以我们用TDR来测定待测物.
1.3, NA测试的结果体现
因为待测物在不同频率下面容抗和感抗会有大的差异,会导致同一待测物在不同频率下阻抗(impedance)会有跳动的现象,这并不能直观的反应待测物在哪个位置发生了问题,所以我们不会使用NA来测试HDMI cable 的阻抗.
第2个问题
open, short 是网络线缆测试是要进行的校正步骤
至于IMPZ我认为是谁写错了吧..也许是impedance?请你去问那个写这个字母组合的人吧.嘿嘿.
帖 子 奖 罚 第一个问题:
你的问题回复起来其实非常复杂,我简单的回复一下:
1.1你要弄懂TDR,NA之间的差别;
TDR发射固定频率信号(低频,一般200KHz)去侦测待测物在微小长度分段下的信号反应.它能准确定位最差信号发射的位置,
NA 发射不同频率信号去侦测待测物在不同频率信号下的信号反应. 它告诉你待测物在哪个频率下信号反应最查.
1.2你要弄懂测试的目的;
我们要测试例如HDMI 阻抗(impedance), 目的在于要搞清楚HDMI cable 在不同位置impedance的变化,而impedance 的 变化决定于cable的结构变化,我们要的测试结果其实是弄清楚最差信号发生的位置,所以我们用TDR来测定待测物.
1.3, NA测试的结果体现
因为待测物在不同频率下面容抗和感抗会有大的差异,会导致同一待测物在不同频率下阻抗(impedance)会有跳动的现象,这并不能直观的反应待测物在哪个位置发生了问题,所以我们不会使用NA来测试HDMI cable 的阻抗.
第2个问题
open, short 是网络线缆测试是要进行的校正步骤
至于IMPZ我认为是谁写错了吧..也许是impedance?请你去问那个写这个字母组合的人吧.嘿嘿.
ottolee 奖励 0 金币,.15 声望,于 2007-4-16 14:54:41
drawplate - 拉线板 (1) 投诉
P:2012-03-20 16:33:15
15
呵呵!我也来热闹一下!
1.TDR和NA都是可以测试阻抗的,这点首先要清楚,针对楼主说的HDMI和网络线的阻抗测试不一样,那是因为规范写死的!HDMI的阻抗规定是要看信号在时域上面反射是否OK?所以TDR也叫时域反射仪,而网络线的阻抗呢,要看的是频率上反射情况,所以NA又成网络分析仪!测试的效果都是要看信号OK!作用结果上算是殊途同归,都是用专业的设备要检查线材是否做得OK!
2.关于NA的 OPEN SHORT LOAD的问题!严格来讲这个仅仅是NA的测试方式的选择问题。NA测试阻抗有两种方式,一种是开路和短路(即使OPEN和SHORT)的方法,这个方法测试出来还要经过运算才可以得出阻抗的值;其二就是开路,短路和负载(即使OPEN,SHORT和LOAD)使用这个方法可以直接从NA读出阻抗的值,不需要再运算。至于不知道怎么通过开路短路运算的话论坛的地方应该有说过!自己找找!
以上观点,欢迎拍砖!轻拍!!
branched high polymer - 支化高聚物 (0) 投诉
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