USB3.0 28#线材衰减不过是什么原因 - 简版

zhansen
楼主
2011-05-13 19:20:23
USB3.0  28#在测试时高频处有一掉落缺口,请问各位高手:怎样在日后的生产和设计中改善这种状况?
cuijiude
1 楼
2011-05-14 18:49:26

贴个图片看看

h20050967
2 楼
2012-09-24 14:45:19
贴个图片看看
wisshhq
3 楼
2014-03-28 15:10:50
啥都没有,不知道你在说什么
取个名字难
4 楼
2014-04-01 12:48:45

先发个图 要是很接近测试频率了 改小绞距会有改善