| 各位老大：我有一个非常棘手的问题能否帮助解决一下： 我公司现有一款USB线材，一头为USB-A公头，另一头为MINI－USB五PIN公头，在电测摇摆时，MINI头一边的地线（铁壳）之间总是出现电性能接触不良的问题，机器显示为OPEN，但是解剖后发现线头焊接都很良好，铁壳焊接未出现不良问题，我们也进行了多次的改善，测试的公母头都出自一家供应商的料，匹配也应该没有问题呀，但测时，总是出现地线接触不良，请大家分析一下，能有什么方法解决一下，多谢！ |
我在做线材测试时也遇到过类似情况。我认为首先还是要排除设备是否有故障？
这个我们已检查过了，测试机是没有问题的。应该还是在加工过程中。
［chicheng 在 2009-4-28 12:38:04 编辑过］
检查母座是不是与改USB配套
治具存在问题的可能性很大
测试治具母座得按测试条数定数更换，比如测2000PCS或1500PCS换一个，如果你测一天了还是用那一套治具，还摇摆测试，当然会出现瞬间的开路现象，就是INT（接触性不良）了！！！