衰减突波(线材传输衰减图中的某一点或一某一小频率段的衰减特别厉害)

以上现象(以HDMI为例)对于此高频线材专区来讲,可能会有很多同仁都有遇到和面对

大家也可能多数从对绞屏蔽绞距,铝箔材质及包裹工艺,芯线相对电容值,导体铜线径及绞距,对线的差异性(SKEW)等方面去考虑

因其范围广,并且有很多不稳定因素,个人感觉如此分析比较困难

假设某批线材的衰减突波都发生在800~825MHz频率段

是否能从其突波的频率段(点)推算找出线材产生异常的规律性

从而进行更有效地分析,找出异常点

不知哪位大侠是否进行过此方面的理论推算

请高手指教并欢迎大家参与讨论和分析

 如果衰减尖波都发生在800-825之间,而且4P都在同一个频率点，那么你的总绞绞距肯定在140-180mm之间，请检查你的成缆机收线张力是否过大，编织工站张力是否过大，护套印字轮压力是否过大，也就是说以上楼主所说的问题和屏蔽，绞距，电容都没有任何的关系，是后段工序挤压破坏所造成。希望对你有所帮助！

［huierwxn 在 2009-4-11 21:03:37 编辑过］

同意三楼观点。

如果对于LAN CALBE 4p在同频率出现，基本可以断定是4p成型及后面的工序造成，并且可以根据频率点较为准确找到形成的破坏点。

Beltriem:

同意三楼观点。

如果对于LAN CALBE 4p在同频率出现，基本可以断定是4p成型及后面的工序造成，并且可以根据频率点较为准确找到形成的破坏点。

对,我想也应该是这样分析

如何以突波频率点来找破坏点呢

计算公式?

非常感谢!

這個沒有什麽計算公式的，因爲這個造成的原因並不是一些設計規格的參數上的修改可以克服的，而是製造過程中的一些擠壓及周期性的不穩定因素引起的，所以想要計算基本是沒有什麽希望了。

如果你想在這方面有更明顯的結果，你可以特意把某個輪子改成是偏心的，而且要明顯一點，做出來成品后你測試看看，就一目了然了

Dear huierwxn:

如果衰减尖波都发生在800-825之间,而且4P都在同一个频率点，那么你的总绞绞距肯定在140-180mm之间

以上是如何推算的呢

小龙分析的也是很有道理的,但三楼朋友的推算过程不知能否更清晰一些,及相应的参考依据

谢谢各位了

期盼各路高手参与其中

分析问题

解决问题

我想，造成這樣的結果很多人都基本知道問題點有哪些；

困難的是怎麽把這個問題點排除在我們的產品製造過程外，力求穩定性做到始終如一；

你可以有做到很漂亮的時候，也有做到很平衡的樣品，唯一難做的就是怎麽保持穩定性。

畢竟這種綫不是單一的材料組成，也不是單一的工序就完成；

崔老大现身倡议了

那大家就再活跃点吧

除需要认真发表自己的观点及解决办法外

对于解决问题的思路、方式有其他见解的也请勇跃发言

小龙也早已给我们作出了榜样

大家再共同努力

去年我司的线缆也是存在类似情况，张力方面也相对监控了，后来也没有此现象。

但现在有出现一个新的频点出的突点，例如：135.2185MHZ,   675.2325MHZ,   555MHZ,   990.14MHZ,请教下，是什么原因呢？

我倒是觉得这个问题跟机台有很大关系.以前我也碰到过这情况,排除芯线问题目后,我用6台高频对绞机分别打样(是每台都独立做4对,再独立做成成品线),再比较其数据,挑出最好的那台机,测其各方面参数,依样做SOP,后来就好很多了!总绞也是一样,虽然这样费事,但一劳久逸,值得一试.

我本人对此问题的观点是
可能是测试的某一频率所形成的振幅及波长
与线材的弯曲或节距形成一定的耦合
从而产生类似共振的效果
因而造成突波
我是从这方面想，但我很难去发掘这个对应关系，或者说不知怎样用数学的形式进行描绘

我也不知道这样分析对不对

有待于大家进一步讨论

余哥,关于你的这个观点,以前我在"高频对称电缆设计与制造技术"里有看到相关,那里面讲的是6类网络线SRL与峰值,还有结构波动周期长度的关系,我只有纸档,没电子档,你去找来看看,可能有用.

有时比较奇怪﹐出现这个问题﹐拉掉芯线50米后重新对绞﹐其他工艺不变﹐性能就会合格﹐所以﹐芯线的稳定性不好的前提下靠调整张力什么的太辛苦。

卓一航:

余哥,关于你的这个观点,以前我在"高频对称电缆设计与制造技术"里有看到相关,那里面讲的是6类网络线SRL与峰值,还有结构波动周期长度的关系,我只有纸档,没电子档,你去找来看看,可能有用.

对了，这个文件很有参考价值，都怪我当时没有去好好研究，放在那里睡觉了

这下好好再看一下

这个现象可从报告的两点来推敲其发生原理,1)如果在800M发生时,800M的衰减会比1G的多很多倍,如1G衰减为8dB,800M反而到20dB,这不符合衰减和频率的关系,这说明了这样的现象不是衰减造成的,而是800M的讯号被反射了,所以800M的讯号少很多,表现在衰减上的图形就会造成800M衰减很大的现象,2)如果在800M发生时,在1600M也会有,在2400M也会有,3200m,大约成倍数关系,这说明了这是和波长有关系的,因为800M的波长是1600M的一倍,800M的波长是2400的3倍,是3200的4倍,由这两点可得到这个现象是讯号反射所造成,并且和波长和造成反射的长度有关

如果在对绞包铝箔或总绞时,设备或材料或操作造成某一长度的阻抗不匹配,属于这个长度的全波长的讯号就会被反射,而半波长和1/4波长的讯号都会被反射,这就会看到报告中有数个向下的突波,当线材短时比较不会发生,因为这样反射的量比较小,当线材长时这样的讯号反射会累积起来,这时的突波就会比较明显

发生频率和不匹配长度存在一定的关系,但不是絶对关系,因为无法得知这个频率是反射的全波长或1/2波长或1/4波长,但可推敲一下

如发生800M在一般发泡度的线上,可算出800M的波长为270mm,半波长为135mm,1/4波长为67.5mm.....可从这些可能长度去看线材设计及製程去看问题出在那边

densenl分析得很道理，Cui老大也代表同仁们给予了奖励

在此我也谢谢各位了

同时昨天我再次复习了相关理论资料

会进一步研究对策

应该能给我带来一些启示

余泽平:

我本人对此问题的观点是
可能是测试的某一频率所形成的振幅及波长
与线材的弯曲或节距形成一定的耦合
从而产生类似共振的效果
因而造成突波
我是从这方面想，但我很难去发掘这个对应关系，或者说不知怎样用数学的形式进行描绘

我也不知道这样分析对不对

有待于大家进一步讨论

这个应该不是主因,因为如果做非对绞的,也会有这样的情况发生.我觉得可能阻抗不均是主因,

但是又没办法去确定到底阻抗什么程度上的不均会对ATT造成多少程度的影响.不过,做这破线

有时候你真没办法常规思考,就像以前认为色母对ATT影响不会占太多比重,但事实上影响很大...

衰减不是用公式可说明的  综合因素很多啊

也许问题出现的越多，经验就会积累的越多，但愿大家都在问题中成长，支持大家！

这个无法计算，有条件建议可有TDR测试看看

densen1:

发生频率和不匹配长度存在一定的关系,但不是絶对关系,因为无法得知这个频率是反射的全波长或1/2波长或1/4波长,但可推敲一下

如发生800M在一般发泡度的线上,可算出800M的波长为270mm,半波长为135mm,1/4波长为67.5mm.....可从这些可能长度去看线材设计及製程去看问题出在那边

想不明白，这跟长度怎么结合在一起，是不是说当出现不良品的时候我们可以用不同的长度去测试

然后确认多少长度会最有可能不良，以此为依据来进行相关的改善

请兄台详细说下这个需要怎么去分析？

我看明白一点就是长线测试中容易出现阻抗不匹配导致反射过大，衰减不过

但是说到波长，长度，设计还有实际制程就想不明白了，还有具体的分析对应，想不通

等待高手