前一段时间，我试做了一些样品，同样结构的微型同轴电缆，理论上来讲同样结构的同轴电缆，在使用同样的原材料的前提情况下，只要保证了各个工艺环节的尺寸规格范围（当然工艺条件也一样，同样的绝缘挤出设备（在生产的过程中我甚至把绝缘层的直径波动已经控制在了+/- 0.01mm)，同样的屏蔽网编织设备（相同的编织张力，不同的编织节距和编织结构），同样的护套押出设备），其电性能结果应该是大同小异的，可是在几个批次的样品中，发现，电性能基本按照理论上的性能分布，

发现单批产品的电性能分布趋势为，大致相同，得出的结论是：

1，屏蔽覆盖率越高，其回波损耗性能是越小，反之则越大。

2，同样的屏蔽结构，编织节距越小，其回波损耗则越小。

3，编织的张力越紧，其回波损耗也越小。

由此可以看出，对于同轴电缆的回波损耗的影响，屏蔽覆盖率是一个因素。

同时相比前面试做的样品，发现衰减更大，仔细分析，原因，在排除了直径的不稳定，排除了电缆结构的不一致待因素外，还有一个重要的影响因素就是中心导体的镀银层的厚度及其均匀性也同思电缆的衰减有着很大的影响，这是由于同轴电缆在高频传输时主要是受趋肤效应所影响的。

终上是本人的一点小小的经验。

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希望有相关的行业同仁一起来共同探讨相关的经验与技术，还请多多关照。

实践得出的结论好是好，但你应该把具体的数据拿出来加以说明，而且不同的测试方法和测试环境也会对测试结果产生影响。不知你的抽样率是多少？

回波损耗与编织节距的大小,关系很大吗?不一定把